TE253西門子星圖測試卡設計用于檢查分辨率。在圖像的中心，該圖表包含方形的徑向正弦調制西門子星,灰色補丁和黑色方塊內有白色小的正方形。圖表的邊框有16個灰色補丁用于自校準。邊角顯示更大的黑色方形，并有一個更小的白色正方形在它的內部。西門子星可擁有144和72周期。兩組傾斜邊緣提供四個不同的調制（40％，60％，80％，100％）。
西門子星圖測試卡與ISO12233:2014標準是一致的。印刷在粗面紙上。
（1）Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.
（2）可以在Imatest軟件的星狀圖模塊上測量清晰度
（3）比起eSFR分析來說西門子星狀圖對圖像處理不太敏感。
（4）有用于提高測試重復性設計的抵制噪點。
（5）包含用于對比的低對比度的水平和垂直方向的雙曲線。
（6）比起雙曲線在位置選擇上變化的差異小。
（7）可以從各個角度，如水平、垂直、徑向和切向等測量清晰度。
（8）包含用于自動識別分析的標識
| 尺寸 | S.I. | Imperial |
| 1x | 250 mm x 333.33 mm | 9.84" x 13.11" |
| 1.5x | 375 mm x 500 mm | 14.76" x 19.66" |
| 2x | 500 mm x 666.67 mm | 19.69" x 26.22" |
| 3x | 750 mm x 1000 mm | 29.53" x 39.34" |
